![]() |
||
| Домой | ||
|
Меню:
Главная
AutoCAD
Исследования
МКЭ ANSYS
ANSYS (Басов К. А.)
Справочник AutoCAD
Взаимодействие фронтов
Проблемы охраны
Нелинейная динамика
Параметрический метод
Энерго информационная модель
Математическое моделирование
Институт теории образования
Коллапс волновой функции
Пенсионное обеспечение
Механосплавление металлов
Индуцированный распад
Фильтр
Электропроводность
Построение решения
Численное исследование
Об уравнениях
Нормирование
Фотолиз
Водородная связь
Концептуализация понятия
Термическая перегруппировка
Химическая поляризация
Многолетняя динамика
Индуцированное дефектообразование
Системы среднего
Морфология
Топологические дефекты
Правило Парето
Математическое моделирование
Метод уменьшения
Изменение
Содержание железа
Фауна
Алгоритм
Об идентификации
табличная модель
вероятности по частотам
Структурирование
Расчет
Анализ
Оценка
Частота
Закономерности
Клонируемые компьютеры
радионуклиды
манипуляция
Программная система
Тенденции
Физическая модель
|
[стр.-1] ![]() Рис.4. Зависимость Т* от концентрации "1" - кривая для нелегированных и "2" - кривая для легированных серебром антиферромагнетиков. Температурная зависимость Hr для спиновых стекол [2] с X = 0,46 и y = 2 мол.% серебра показана на рисунке 5. ![]() Рис.5. Температурные зависимости резонансного Hr и внутреннего полей. "1" кривая - поле приложено параллельно кристаллографической оси [100]; "2" кривая - вдоль [111] и перпендикулярно плоскости пластинки (Н ; "3" кривая - вдоль [100]; "4" кривая - поле приложено вдоль [110], и приложенное поле параллельно плоскости пластинки (Нп) . В соответствии с уравнениями Киттеля для плоского образца можно записать выражения (2): ы2 Нц(#ц + 4пМ) Из этих можно видеть, чем выше намагниченность при понижении температуры, тем больше Hj и меньше H . Это верно при достаточно высоких температурах, но можно видеть аномальное падение обоих полей H и H j при низких температурах, как будто бы дополнительное H добавляется к внешнему полю. Внутреннее поле H почти не зависит от ориентации кристалла и экспериментально зависит от температуры, как показано на рисунке 5 кривая "5" . Тот же результат был получен для неоднородных антиферромагнетиков системы Сй?1 XZnxCr2. Величина H j увеличивается при X - Xc . Единственное объяснение, которое мы можем предложить для низкотемпературного сдвига резонансного поля Hr - это позитивная изотропная объемная AV стрикция парапроцесса, изученная для системы Cdi XZnxCr2 ££4 в работах [3; 4]. Стрикция при H ~ HR и T = 10 K в спиновых стеклах равна ферромагнитного обмена J на величину T = 10 K ю-4 V и сопровождается увеличением Г 3k S (S +1)\ ( dp л k(avл V 17 1,5 10-1 эрг, (3) J для иона Cr 3+ , p - давление, Tc - температура Кюри, где k - постоянная Больцмана, спин S = - 2 dT1 -c = 0,82Kкбар для CdCr2Se [5], - = 2 10 6 бар4 ее сжимаемость [5], тогда dpК Hi =AHeff M AJ n 1 кЭ, где n - концентрация ионов Cr3+. Мы используем тот факт, что позитивная объемная изотропная стрикция парапроцесса CdCr2 вблизи Tc такая же, как и для спиновых стекол этой системы вблизи Tg [4]. Литература 1.E.M.Jeckson, S.B.Liao, S.M.Bhagat, J,Mag.Mag.Materials. 80(1989) 229. 2.Ю.И.Лесных, РАО ИОСО - М.:2000. с. 150-156 3.А.А.Минаков, И.В.Швец, В.Г.Веселаго, J,Mag.Mag.Materials. 87(1990) 159. 4.А.А.Минаков, И.В.Швец, INTERMAG90, Brighton, UK, (1990) AD-01. 5.V.C.Srivastava, J.Appl. Phys. 40 (1969) 1017. |
Меню:
Стандартизация
Математика
Сапромат
Факторизация
Компьютерное моделирование
Обеспечение отказоустойчивости
Оптимизация доступа
Аномальный сдвиг
Экологические аспекты
Методические подходы
Возмущение ионосферы
основы
Инструментальное средство
Погрешность
Результаты
Изучение дефектов
Зависимость эндотелийзависимости
теплоперенос
Квантование
О дроблении
Экспериментальное изучение
Сравнительная оценка
пластинчатый теплообменник
экосистема
Моделирование
Многоэлектронные эффекты
Синтез
Распространение
Анализ видов
государство
Плотность состояний
Исследование
Квазитрехмерная модель
самшитовый биогеоценоз
временной ряд
вихревое поле
Эндотелийзависмый механизм
Теоретическое описание
коронирующий провод
построение модели
электрическое поле
формализм
Отклонения
Инновационное замещение
Динамика численности
сегрегация
среда обитания
специальный подход
инновационная деятельность
температура
Фоновая неоднородность
Цифровая обработка
Потенциалы
Связанность
|
|
|
||